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1. 核心特点
(1)长脉冲光源设计
脉冲宽度:通常在10毫秒至100毫秒秒(传统闪光灯测试仪脉宽仅10ms),为慢响应组件提供充分的光照稳定时间。
光源类型:采用氙灯长脉冲模式,确保光照均匀且光谱接近AM1.5标准。
适用场景:针对电容效应显著、载流子迁移率低的组件(如薄膜、钙钛矿)。
(2)高精度IV曲线测量
消除瞬态误差:延长光照时间,使组件电流电压(IV曲线)充分稳定,避免短脉冲导致的功率虚高或低估。
数据采样率:同步高精度采集电流、电压数据,精确捕捉最大功率点(MPP)。
(3)适配性广
兼容多类型组件:可测试晶硅组件,但更适用于非晶硅、叠层电池、柔性组件等对光响应慢的材料。
低辐照度测试:支持弱光下(如200W/m²)的性能评估,模拟阴雨天气工况。
2. 技术优势
精准性提升:传统短脉冲测试中,薄膜组件因电容效应导致电流延迟,长脉宽可消除动态误差,功率测量误差可控制在±0.5%以内。
工艺优化支持:为新型电池研发提供真实数据反馈,助力材料与结构设计改进。
质量控制严格化:避免因测试误差导致的良品误判或漏检,降低客诉风险。
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